SC-E型种子大米外观质量检测剖析仪体系（米质断定仪）

  用于各种类大米（精米、糙米、糯米等）各项外观质量目标的精准主动查验测验，可进行多参数、批量化的主动剖析。

  ★可主动一次性丈量剖析30g以上大米样品的：垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度、黄粒米、杂质量、异种类粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可主动剖析大米的碾米精度、裂纹率，以及糙米胚芽率。

  主动丈量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度丈量差错0.05mm，长宽比丈量差错0.05，重现性差错0.02；整精米率、碎米率目标丈量差错1.0%、重现性差错0.25%）。可大批量主动剖析处理与输出成果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891稻谷或GB1354大米、农业部新规范【大米】NY/T2334-2013等规范相对应，检测各项目标的分量比和粒数比。各剖析图画、分布图、成果数据可保存，剖析成果输出至Excel表，可输出剖析符号图。

  ★具有主动学习与辨认特性，可主动切割粘连的大米、种粒，可做主动分类剖析。

  ★具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒直径规模0.3-20mm（厚15mm），主动丈量精度99%，交互修正后准确率达。

  选配电脑引荐：联想一体机（双核CPU/2G内存/512M独立显卡/500G硬盘/20”彩显/DVD-RM/无线网卡）。